高溫測(cè)試

高溫測(cè)試是模擬產(chǎn)品在貯存、裝配和使用過(guò)程中的耐高溫狀況而進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)，高溫試驗(yàn)也是最長(zhǎng)用的加速壽命測(cè)試。高溫測(cè)試目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲(chǔ)存和工作的儲(chǔ)存、使用的適應(yīng)性及耐久性。確認(rèn)材料高溫下的性能。

產(chǎn)品細(xì)節(jié)圖：

應(yīng)用范圍

高低溫測(cè)試主要針對(duì)的范圍包括電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料，測(cè)試的嚴(yán)格程度取決于高低溫呢的溫度和持續(xù)測(cè)試時(shí)間。高低溫溫可能使產(chǎn)品過(guò)熱，影響使用安全可靠性，甚至損壞，如：

· 由于各種材料的膨脹系數(shù)不同，導(dǎo)致材料之間的粘結(jié)和遷移。

· 使材料性能發(fā)生變化。

· 使元器件電性能下降。

· 彈性元件的彈性或機(jī)械性能強(qiáng)度降低，縮短產(chǎn)品使用壽命。

· 加速高分子材料和絕緣材料劣化和老化過(guò)程，縮短產(chǎn)品使用壽命。

· 橡膠等柔韌性材料的彈性降低，并產(chǎn)生破裂。

· 金屬和塑料脆性增大，導(dǎo)致破裂或產(chǎn)生裂紋。

· 使材料變脆,如塑料、鋼鐵在低溫下容易發(fā)生脆裂損壞，橡膠材料硬度增大，彈性下降等。

方法標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考：GB/T 2423.1，GB/T 2423.2， IEC 60068-2-1，IEC 60068-2-2，EN 60068-2-1，EN 60068-2-2 等。

試驗(yàn)參數(shù)

高溫試驗(yàn)：試驗(yàn)溫度、試驗(yàn)時(shí)間、升溫速率。

性能影響

高溫試驗(yàn)：材料熱老化、龜裂、變色、軟化、熔融、膨脹，或功能性失效等。